?粉末壓片XRF熒光光譜儀EDX9000B礦石土壤分析儀測定土壤及水系沉積物和巖石樣品中15種稀土元素?

采用粉末樣品壓片制樣,使用能量色散X射線熒光光譜儀對土壤,水系沉積物和巖石樣品中15個稀土元素(La,Ce,Pr,Nd,Sm,Eu,Gd,Tb,Dy,Ho,Er,Tm,Yb,Lu,Y)進行測定.開發(fā)了15個稀土元素的測量條件，基體效應和譜線重疊干擾校正.使用60余個土壤,水系沉積物和巖石標樣建立校準曲線,采用經(jīng)驗系數(shù)法和康普頓內(nèi)標法校正基體效應,并用多元回歸準確扣除稀土元素譜線重疊干擾.對土壤標準樣品進行精密度考察,15個稀土元素測量結果的相對標準偏差(RSD,n=10)為0.74%～17%.對土壤,水系沉積物和巖石標準樣品進行分析,測定值和認定值一致

ESI英飛思EDX9000B光譜儀主要應用于在采礦過程的所有階段進行材料元素成分分析。從勘探樣品到礦物精礦，從選礦到尾礦，EDX9000B都在苛刻的采礦環(huán)境中均具有出色的靈活性，分析性能和穩(wěn)定性。

EDX9000B專注于對地質(zhì)材料的主量，微量和痕量元素進行定性和定量分析，其中包括：

•鐵礦• 銅礦• 鋁土礦•貴金屬礦產(chǎn)•稀土礦•原料•磷酸鹽•煤炭•鉛鋅礦•錳礦•鎳礦•石灰石•粘土•石膏•玻璃•土壤•水泥•耐火材料及其他等

EDX9000B操作簡單，分析性能出色，同時還可拓展到以下應用

>塑膠及有機物：塑料材料PE，PVC，添加劑等元素分析

>石油化工：燃料，潤滑油監(jiān)測，添加劑，磨損金屬等中的硫元素分析

>環(huán)境：廢水，空氣污染，土壤和地面，排放控制等

>涂層厚度和薄膜：分析多層涂層，鋼涂層，雜質(zhì)等

>刑偵及公安：證據(jù)分析，材料匹配，爆炸物等

>食品，化妝品和藥品：添加劑控制，原材料，有害金屬，包裝材料等

產(chǎn)品特點

作為一款專業(yè)為礦產(chǎn)元素分析而設計和生產(chǎn)的光譜儀，EDX-9000B兼顧了耐用性，易于操作和高性價比。其顯著優(yōu)勢主要有：

•無需或者很少的樣品制備，全程無損分析，一到三分鐘即可出結果

•強大的基于Windows的FP（基本參數(shù)算法）軟件降低了基體效應的影響

•50 kV 光管管和電制冷的SDD硅漂移檢測器不僅具有出色的短期重復性和長期重現(xiàn)性，而且具有出色的元素峰分辨率

•能同時進行元素和氧化物成分分析

下圖是樣品中稀土XRF熒光光譜儀實測譜圖：